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YXLON: Messeauftritt auf der GIFA 2011

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YXLON at GIFA
YXLON at GIFA

YXLON International präsentierte sich auf der GIFA 2011, der weltweit bedeutendsten Fachmesse für Giessereitechnik, die vom 28. Juni bis 2. Juli 2011 in Düsseldorf stattfand und neue Besucherrekorde verzeichnen konnte.

Auf dem über 100 m
2 großen Messestand stellte YXLON zwei ihrer universellen Röntgenprüfsysteme vor, über deren vielfältige Einsatzmöglichkeiten sich die Besucher informieren ließen. Besonderes Interesse am YXLON Stand erzeugte die markterprobte Lösung Y.MU2000-D, ausgestattet mit einem modernen, digitalen Flachdetektor und der Y.HDR-Inspect-Technologie. Mit Y.HDR Inspect sind Fehler in Prüfteilen sowohl in dünnen als auch in dicken Materialbereichen in brillanter Bildqualität mit hohem Kontrast sofort erkennbar, ohne die Röntgenparameter zu verändern.

Das zweite Highlight des diesjährigen Messeauftritts war die Vorstellung der Y.Multiplex CT, mit der die Computertomographie den Weg aus dem Labor in die Produktion geht. Die Schichtbilder der CT-Prüfung geben Aufschluss über Lage und Größe der vorhandenen Fehler. Die CT-Ergebnisse sind dank optimierter Methoden schnell verfügbar und können direkt am Röntgensystem visualisiert werden. Besonders beeindruckt zeigten sich die Besucher vor Ort von der Schnelligkeit des CT-Scans bei der Datenakquise und Rekonstruktion auch im Vergleich zum Wettbewerb.

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